【導(dǎo)讀】貼片電解電容已經(jīng)從直流發(fā)展到交流、從低溫發(fā)展到高溫、從低壓發(fā)展到高壓、從通用型發(fā)展到特殊型、從一般結(jié)構(gòu)發(fā)展到片式、扁平、書本式等結(jié)構(gòu)。
貼片電解電容就現(xiàn)在的產(chǎn)量來說，鋁電解電容器在電容器中占第二位．這類電容器本來是一般的直流電容器，但現(xiàn)在已經(jīng)從直流發(fā)展到交流、從低溫發(fā)展到高溫、從低壓發(fā)展到高壓、從通用型發(fā)展到特殊型、從一般結(jié)構(gòu)發(fā)展到片式、扁平、書本式等結(jié)構(gòu)。其上限容量已擴(kuò)展到4F左右，使用頻率已達(dá)到30kHz，工作溫度范圍已達(dá)到-55℃—125℃，有的甚至高到150℃，額定電壓己達(dá)到700V。總之，鋁電解電容器的發(fā)展越來越廣。
圖1：貼片電解電容
貼片電解電容測(cè)試的正確方法
1.溫變化率測(cè)試，即-40度到+60度狀況下，貼片鉭電容的變化率；
2.串聯(lián)電阻測(cè)試，絕緣電阻測(cè)試；
3.拉力測(cè)試，即引線與芯片焊接的牢固度；
4.耐壓實(shí)驗(yàn)，包括額定工作電壓24小時(shí)工作測(cè)試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測(cè)試，貼片電容被擊穿前的那一個(gè)臨界電壓就是擊穿電壓。
5.局放測(cè)試，即局部放電測(cè)試；
6.老化測(cè)試，高壓陶瓷電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運(yùn)作30~60天，貼片電解電容測(cè)試其衰減其各項(xiàng)參數(shù)的變化；
7.壽命測(cè)試，貼片電解電容即在老化測(cè)試的基礎(chǔ)上，再對(duì)電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測(cè)試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，注意，這個(gè)壽命的得出是在長時(shí)間的老化之后得出的。
